Rezumat articol ediţie STUDIA UNIVERSITATIS BABEŞ-BOLYAI
În partea de jos este prezentat rezumatul articolului selectat. Pentru revenire la cuprinsul ediţiei din care face parte acest articol, se accesează linkul din titlu. Pentru vizualizarea tuturor articolelor din arhivă la care este autor/coautor unul din autorii de mai jos, se accesează linkul din numele autorului.
Autori: DORINA CIOMOS, D. MARCONI, A.V. POP.
ZnO, Al-doped ZnO (Al:ZnO) and Gd/Al-doped ZnO (Gd:Al:ZnO) thin films were deposited on glass substrate using RF magnetron sputtering technique. The microstructure was studied by atomic force microscopy (AFM) and the crystallographic structure by X-Ray diffraction. XRD and AFM measurements shows that partial substitution of Zn with 2%Al and 2%(Al-Gd) lead to change of average grain size and surface morphology of thin films.
Keywords: ZnO thin films, RF magnetron sputtering, Structural properties
